32-01-101
10 норм в категории "32-01-101"
Оборудование для контроля → Установка визуального контроля качества проявления и качества поверхности полупроводниковых пластин
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Машина для определения глубины залегания Р-П перехода
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Установка функционального контроля
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Установка двухпозиционная для визуального контроля масок
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Установка контроля сферы маски
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Система параметрического функционального контроля полупроводниковых ЗУ и БИС микропроцессоров
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Установка контроля прозрачности сферизованных масок ЦЭЛТ
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Оборудование для контроля → Система контроля микроканальных пластин по структурным параметрам лазерная с управлением от ЭВМ
Группа: Оборудование для контроля Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Установка контроля параметров: → микроканальных пластин
Группа: Установка контроля параметров: Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0
Установка контроля параметров: → катодолюминофоров
Группа: Установка контроля параметров: Обоснование: НР: Пр/812-074.0, СП: Пр/774-074.0